美國科諾研制版本光學(xué)接觸角儀中標 "香港科技大學(xué)納米與材料研究院"。這是科諾產(chǎn)品推向應用用戶(hù)的一個(gè)新里程，也是對科諾產(chǎn)品的性能、技術(shù)、服務(wù)的一個(gè)肯定。

美國科諾將繼續加大亞太地區的研發(fā)投入，與廣大用戶(hù)和同行一起不斷提升光學(xué)法界面化學(xué)分析的關(guān)鍵技術(shù)，擴大界面化學(xué)分析儀器應用范圍。
比如，美國科諾已經(jīng)在界面化學(xué)Young-lalapalace方程擬合技術(shù)上取得重大突破，不久就將引入第四代真實(shí)液滴法（TrueDrop） Y-L方程擬合求解界面張力、振蕩分析、接觸角分析的技術(shù)。這是一種突破，實(shí)現了由BA表*代擬合技術(shù)和1996年德國柏林理工大學(xué)的Spinger教授提出的基于“B”概念的Young-Lapalace方程擬合法的第二代擬合技術(shù)，至Newmann教授的龍格庫拉解法下的第三代擬合技術(shù)，向第四代基于真實(shí)液滴法（RealDrop^TM）法的Young-Lapalace擬合技術(shù)突破。第四代技術(shù)的關(guān)鍵點(diǎn)在于，我們將利用美國科諾強大的圖像分析技術(shù)，真正解決*代與第二代技術(shù)的經(jīng)驗性假設誤差、第三代技術(shù)自動(dòng)化程度的關(guān)鍵問(wèn)題，從而提高了分析速度、重復性、人為因素影響等對界面張力測值的影響。此時(shí)，明顯的表現是，我們不再像第二代技術(shù)那種必須假設取得理想的B=0.7時(shí)需要根據經(jīng)驗和估算界面張力值，選用相應針頭的問(wèn)題。我們認為，界面張力測值與針頭的直徑的選取就是一個(gè)經(jīng)驗判斷。這個(gè)判斷會(huì )造成相當的誤差與人為影響。